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BMS電池芯仿真模擬系統(tǒng)SS7081-50是一款12路電池電池片電壓發(fā)生器，可提供電源，電子負(fù)載和DMM功能集成在一個(gè)軟件包中。該系統(tǒng)的簡(jiǎn)單結(jié)構(gòu)使構(gòu)建BMS功能驗(yàn)證環(huán)境比以往任何時(shí)候都更安全、更經(jīng)濟(jì)、更有效率，輕松、安全地構(gòu)建高度精確的BMS*驗(yàn)證環(huán)境（*BMS：電池管理系統(tǒng)），作為電壓發(fā)生器或模擬電池代替實(shí)際電池和電源，建立高效的測(cè)試環(huán)境。

遠(yuǎn)方BBMS-4000空間透反射分布測(cè)試系統(tǒng) 可分析測(cè)量材料表面的反射、透射特性，可測(cè)參數(shù)包括材料的雙向透射分布（BTDF）、雙向反射分布（BRDF）、反射比分布、透射比分布、總反射（TIR）、總散射（TIS）等，特別適合手機(jī)屏、雷達(dá)視窗、光學(xué)膜材、特種鍍層、涂層、紙張、玻璃、異形鋁材、塑膠等材料表面光學(xué)特性的定量分析。系統(tǒng)可以可以導(dǎo)出標(biāo)準(zhǔn)BSDF文件至Tracepro、Zemax等

遠(yuǎn)方BBMS-3000反射透射空間分布測(cè)試系統(tǒng) BBMS-3000雙向反射透射空間分布測(cè)量系統(tǒng)可分析測(cè)量材料的反射、透射空間分布特性?？蓽y(cè)參數(shù)包括材料的雙向透射分布（BTDF）、雙向反射分布（BRDF）、反射比分布、透射比分布、總反射（TIR）、總散射（TIS）等，系統(tǒng)可以導(dǎo)出標(biāo)準(zhǔn)文件至lighttools、Tracepro、Zemax、Speos等光學(xué)軟件中，用于輔助光學(xué)材料或系統(tǒng)的模擬、

聯(lián)訊eDH3101高溫高濕老化系統(tǒng)是一體化高溫高濕雙85老化系統(tǒng)，一個(gè)針對(duì)第三代半導(dǎo)體芯片可靠性測(cè)試的完整的雙溫高濕雙85 Turn-key解決方案。 聯(lián)訊儀器eDH3101主要適用于GaAs和GaN射頻器件和功率器件的高溫高濕試驗(yàn)。該系統(tǒng)已經(jīng)在激光器芯片行業(yè)和第三代半導(dǎo)體兩大行業(yè)通過大量認(rèn)證，是一個(gè)可靠穩(wěn)定的系統(tǒng)。

聯(lián)訊CT8201激光器芯片測(cè)試系統(tǒng)聯(lián)訊儀器 CT8201 激光器芯片測(cè)試系統(tǒng)是針對(duì)激光二極管LIV、光譜及近場(chǎng)/遠(yuǎn)場(chǎng)參數(shù)測(cè)試需求開發(fā)的。

聯(lián)訊TO6201 TO高溫測(cè)試系統(tǒng)TO6201-LIV是聯(lián)訊儀器提供的測(cè)試TO LIV，光譜測(cè)試機(jī)臺(tái)，支持標(biāo)準(zhǔn)8x8老化夾具，主要功能和參數(shù)指標(biāo)包括： ? 支持TO的LIV掃描相關(guān)參數(shù)計(jì)算. ? 支持中心波長(zhǎng)和SMSR測(cè)試，是否跳模判斷（多電流點(diǎn)光譜測(cè)試法）

聯(lián)訊TO6200低溫測(cè)試系統(tǒng)聯(lián)訊儀器提供的測(cè)試設(shè)備需要支持如下TO 產(chǎn)品的LIV 與光譜測(cè)試，詳細(xì)功能包括： - 支持TO 的LIV 掃描相關(guān)參數(shù)計(jì)算和算法選擇 - 支持中心波長(zhǎng)和SMSR 測(cè)試，是否跳模判斷（多電流點(diǎn)光譜測(cè)試法）. - 支持LIV 和光譜并行測(cè)試

聯(lián)訊BI4201-TO老化系統(tǒng)是聯(lián)訊儀器提供的測(cè)試TO 標(biāo)準(zhǔn)老化系統(tǒng)，主要功能和特點(diǎn)包括：。 - 雙溫區(qū)，每個(gè)溫區(qū)可以獨(dú)立老化不同產(chǎn)品 - 大容量，每個(gè)溫區(qū)支持1536 顆TO 的老化，共支持3072 顆TO 的老化 - 軟件切換引腳定義，針對(duì)目前行業(yè)內(nèi)不同的引腳封裝通過軟件切換實(shí)現(xiàn) - 兼容小電流VCSEL TO 的老化和大電流FP/DFB TO 的老化