JSM-IT210掃描電子顯微鏡

數(shù)據(jù)采集簡單！

JSM-IT210是日本電子制造的最小巧的落地型掃描電子顯微鏡。

5軸馬達驅動使得操作更安心和快速；而且因為裝有“Simple SEM"，只需選好微區(qū)就能自動觀察和分析。

JSM-IT210是一款小巧的可無人操作的新一代SEM。

JSM-IT210掃描電子顯微鏡

主要特點

1.  安全簡單的樣品交換導航

①  按照導航指示放入樣品

②  利用抽真空的間隙做好觀察準備

③  自動開始觀察

2.  無需放大光學圖像，SEM像“Zeromag“聯(lián)動

“Zeromag"是樣品臺示意圖、光學圖像和SEM像聯(lián)動功能，樣品臺上放置多個樣品或觀察特定位置時，很容易找到要觀察的區(qū)域。

3.  觀察過程中實時進行元素分析“Live Analysis"

“Live Analysis"是實時顯示特征x射線和元素面分布的功能，可以邊觀察邊尋找目標元素。

4.  多彩的自動測試“Simple SEM"功能

“Simple SEM"是只需設定觀察區(qū)域就進行自動拍攝的功能。

5.  強大的自動測試支持功能

高精度樣品臺助力自動測試。樣品臺位置精度的提高，使得多點多域的連續(xù)測試和自動測試更加實用。

6.  標準搭載60 mm2大口徑EDS，分析速度更快

*  在短時間內可以獲得與傳統(tǒng)EDS相同質量的光譜，同時也能夠高效地進行多點分析。

*  熱敏感樣品也可以安心測試

傳統(tǒng)的EDS技術需要大電流來進行分析，對于熱敏感的樣品可能會因為熱損傷而導致形變，從而影響元素面分布的分析。

60 mm2的EDS，可以通過降低照射電流量來獲取元素面分布，這樣可以減少熱損傷并進行分析。

*  即使在短時間內，也能獲得清晰的元素面分布圖

60mm2 的EDS只測1分鐘，也可以獲得足夠清晰的元素面分布圖。